Переносной металлографический микроскоп для неразрушающего контроля SIAMS МАП-4М

Оптическая часть микроскопа:

Объективы сменные планахромат: 5х/0,12, 10х/0,25, 20х/0,40, 40х/0,60, 50х/0,70 с увеличенным рабочим отрезком
Перемещение объективов: Ход 30х30 мм по осям X-Y
Окуляр:10х/18mm

Механическая часть микроскопа:
Осветитель: Светоиодный с плавной регулировкой интенсивности освещения
Встроенный аккумулятор
Зарядное устройство в комплекте
Штатив микроскопа: Регулировка по высоте с ходом 35 мм
Возможность наклона штатива под углом ±20 градусов вперед и назад для съемки криволинейной поверхности без перемещения микроскопа с места крепления
Рукоятки грубой и точной фокусировки
Крепления: Прочное магнитное крепление на 3-х точках с помощью вращаемых шарнирных опор для крепления на стальных криволинейных выпуклых и вогнутых поверхностях, в т.ч. на гибах труб диаметром от 60 мм
Крепление для немагнитных поверхностей схраповым механизмом
Подставка с ходом ±5 мм для установки микроскопа на плоские поверхности

Байонетное крепление для фотоаппарата
Креплениеc-mountдля видеокамеры
Кейс для переноски микроскопа