Осмотр контролируемой поверхности и обнаружение дефектов - elnk-group

Осмотр контролируемой поверхности и обнаружение дефектов

Согласно ГОСТ Р 56512-2015

Контроль неразрушающий. Магнитопорошковый метод. Типовые технологические процессы:

Признаки дефектов как длина индикаторных рисунков дефектов и их расположение измеряют линейкам, угольниками, кронциркулями, из немагнитных материалов, оптическими приборами (лупы, микроскопы, эндоскопы): трещины, расслоение, несплавление -выявляются в виде удлиненных, тонких индикаторных рисунков в виде валиков магнитного порошка; объемные дефекты (поры, раковины, включения выглядят как округлые индикаторные рисунки; под поверхностью дефекты зачастую имеют неявное осаждение порошка. При нечетких индикаторных рисунках проводят повторный МПД контроль.

img
Оставить заявку
Наименование
Цена

Освещенность рабочего места дефектоскописта при магнитопорошковом методе при использовании черных и цветных нелюминесцирующих магнитных порошков или суспензий колеблется в пределах 1000 — 1500 люкс.

Осмотр объектов контроля суспензией с люминесцентным магнитным порошком делают с использованием ультрафиолетового облучения. Длина волны ультрафиолета 315 до 400 км с максимумом излучения примерно 365 нм. Освещенность зоны контроля видимым светом не более 20 лк.

Рабочее место при магнитопорошковой дефектоскопии рекомендуется оснащать отбракованными деталями контроля с известными дефектами и дефектограммами, в соответствии с приложением Г. 14.13 ГОСТ Р 56512-2015   Контроль неразрушающий. Магнитопорошковый метод. Типовые технологические процессы.

    Заказать бесплатную консультацию

    Продолжая вы даете согласие на обработку своих персональных данных, в соответствии с
    политикой конфиденциальности

    call-img

    Осмотр контролируемой поверхности и обнаружение дефектов